一文介紹x射線鍍層測厚儀原理及應用范圍

更新時間：2022-10-31

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X射線鍍層測厚儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量速度慢，多適用于抽樣檢驗。

x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度，這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加，厚度值也增加，但不是直線關系；通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經驗系數法)得到一個接近實際對應關系的曲線。

x射線鍍層測厚儀原理

1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質**厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。

理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。

2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。

功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。

應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。