我的位置：
X射線膜厚測(cè)試儀
X射線膜厚測(cè)試儀對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。
- 01
更新日期
2023-04-24 - 02
廠商性質(zhì)
代理商 - 03
瀏覽量
2203
<input id="uwuui"></input>
<dl id="uwuui"></dl>
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品中心/ PRODUCTS CENTER
更新日期
2023-04-24廠商性質(zhì)
代理商瀏覽量
2203
更新日期
2023-04-24廠商性質(zhì)
代理商瀏覽量
2903關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介榮譽(yù)資質(zhì)資料下載產(chǎn)品展示
Co INF美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片CO無(wú)限厚 HXCo/xx美國(guó)Calmetrics元素Co/xx標(biāo)準(zhǔn)片Co 2um HXSn/Cu美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片底材銅上鍍錫Sn/Cu HXNi/Cu美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片銅底材上鍍鎳Ni/Cu HXCr/Fe美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片鐵底材上鍍鉻Cr/Fe服務(wù)與支持
技術(shù)文章新聞中心聯(lián)系我們
聯(lián)系方式在線留言版權(quán)所有 © 2025 廣州鴻熙電子科技有限公司 備案號(hào)：粵ICP備19069139號(hào)
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
電話：TEL
地址：ADDRESS
掃碼加微信
返回頂部